| 全部作者 | 黃至堯 |
|---|---|
| 作者順序 | 第一作者 |
| 論文名稱 | A Gated-Diode ESD SCR-Incorporated BJT for Reversed Floating P⁺ Junction Modulation |
| 刊物名稱 | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability |
| 出版日期 | 2021-03-01 |
| 全部作者 | 黃至堯 |
|---|---|
| 作者順序 | 第一作者 |
| 論文名稱 | A Gated-Diode ESD SCR-Incorporated BJT for Reversed Floating P⁺ Junction Modulation |
| 刊物名稱 | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability |
| 出版日期 | 2021-03-01 |
| 健行科技大學 Chien Hsin University of Science and Technology, No.229, Jianxing Rd., Zhongli Dist., Taoyuan City 320312, Taiwan(R.O.C.) 桃園市中壢區健行路229號 電話：03-4581196 健行科技大學 電資學院 電資學院5樓D519室 分機5001 建議使用 1024*768 解析度已達本站最佳瀏覽效果 意見反映信箱：eecsoffice@uch.edu.tw |
 
|
 |